Способ отбраковки интегральных схем после воздействия статического электричества по методу контактного разряда
Исполнитель:
Пискун Геннадий Адамович, к.т.н., доцент, доцент кафедры проектирования информационно-компьютерных систем.
Задача изобретения заключается в разработке способа отбраковки интегральных схем после воздействия статического электричества по методу контактного разряда, основанного на построении имитационной модели исследуемого изделия в которой реализуется расчет системы уравнений теплопроводности и электропроводности, что позволяет производить прогнозирование отказа ИС при различном напряжении воздействующего контактного разряда.
Предлагаемый способ осуществляется следующим образом (см. рисунок):
1. Определение областей (токопроводящих элементов ИС), в которых будет осуществляться расчет распределения температуры, а также разработка модели определенной геометрической формы (длина, ширина).
2. Постановка и формализация задач по описанию процессов тепло- и электропроводности в токопроводящих элементах ИС.
3. Задание численных значений параметров для каждой области ИС.
4. Задание граничных условий для каждой области ИС.
5. Расчет и моделирование распределения температуры в токопроводящих элементах ИС в программном комплексе.
6. Анализ результатов расчета.
Нет: в случае, если полученные результаты расчета, выполненные в п. 5, не удовлетворяют условиям разработчика, то осуществляется переход на п. 3;
Да: полученные результаты расчета, выполненные в п. 5, удовлетворяют условиям разработчика.
7. Разработка мероприятия по оптимизации параметров токопроводящих элементах ИС.
Отличительной особенностью заявленного способа отбраковки интегральных схем после воздействия статического электричества по методу контактного разряда является построение в программном комплексе модели, в которой осуществляется расчет и моделирование распределения температуры в токопроводящих элементах ИС и полупроводниковых приборов.
Пискун Геннадий Адамович, к.т.н., доцент, доцент кафедры проектирования информационно-компьютерных систем.
Задача изобретения заключается в разработке способа отбраковки интегральных схем после воздействия статического электричества по методу контактного разряда, основанного на построении имитационной модели исследуемого изделия в которой реализуется расчет системы уравнений теплопроводности и электропроводности, что позволяет производить прогнозирование отказа ИС при различном напряжении воздействующего контактного разряда.
Предлагаемый способ осуществляется следующим образом (см. рисунок):
1. Определение областей (токопроводящих элементов ИС), в которых будет осуществляться расчет распределения температуры, а также разработка модели определенной геометрической формы (длина, ширина).
2. Постановка и формализация задач по описанию процессов тепло- и электропроводности в токопроводящих элементах ИС.
3. Задание численных значений параметров для каждой области ИС.
4. Задание граничных условий для каждой области ИС.
5. Расчет и моделирование распределения температуры в токопроводящих элементах ИС в программном комплексе.
6. Анализ результатов расчета.
Нет: в случае, если полученные результаты расчета, выполненные в п. 5, не удовлетворяют условиям разработчика, то осуществляется переход на п. 3;
Да: полученные результаты расчета, выполненные в п. 5, удовлетворяют условиям разработчика.
7. Разработка мероприятия по оптимизации параметров токопроводящих элементах ИС.
Отличительной особенностью заявленного способа отбраковки интегральных схем после воздействия статического электричества по методу контактного разряда является построение в программном комплексе модели, в которой осуществляется расчет и моделирование распределения температуры в токопроводящих элементах ИС и полупроводниковых приборов.